JavaScript is currently disabled.Please enable it for a better experience of Jumi.

logotypen

National Instruments, joka nykyään brändää itsensä lyhenteellä NI, on julkaissut PXIe-pohjaisen oskilloskoopin. PXIe-5164 perustuu avoimeen, modulaariseen PXI-arkkitehtuuriin, ja sisältää käyttäjän ohjelmoitavan FPGA:n helpottaakseen ilmailun, puolustusteollisuuden, puolijohdevalmistuksen ja tutkimuksen sekä fysiikan sovellusten kehittämistä, jotka vaativat korkeajännitemittauksia ja erittäin korkeaa amplituditarkkuutta.

NI:n tutkimuksesta vastaavan johtajan Steve Warntjesin mukaan PXI-skooppiuutuus lyhentää testausaikaa, kasvattaa kanavatiheyttä ja nyt myös tuottaa aiempaa paremman mittauksen joustavuuden yhdistämällä korkean kaistanleveyden, resoluution ja syöttöjännitteen.

- Uusi PXIe-5164-oskilloskooppimme kykenee mittauksiin, joihin tämän päivän pöytätesterit eivät yksinkertaisesti yllä. Jos haluat mitata korkeajännitesignaaleja jopa 100 Vpp:n syöttöalueella aina 1 giganäytteeseen asti sekunnissa, voit nyt käyttää samaa instrumenttia nähdäksesi pienet signaalin yksityiskohdat. Normaalisti nämä yksityiskohdat hautautuisivat kohinaan, mutta nyt ne saadaan näkyviin 14-bittisen AD-muuntimen ansiosta, Warntjes perustelee.

PXIe-5164 sisältää kaksi 14-bittistä kanavaa, joita näytteistetään 1 giganäytteen sekuntinopeudella 400 megahertsin kaistanleveydellä. Luokkaan II luokiteltujen kahden mittauskanavan maksimisyöttöalue on jopa 100 Vpp ja ohjelmoitavat offset-jännitteet mahdollistavat mittaukset aina ± 250 volttiin asti. Rinnakkaisia monikanavajärjestelmiä voidaan rakentaa yhdessä PXI-kehikossa 32 kanavalle.

Asiakaskohtaisten mittaussovellusten kehittäminen onnistuu kortilla olevan Xilinxin Kintex-7 410 -FPGA-piirin avulla. Niiden ohjelmointi onnistuu tuttuun NI-tapaan LabVIEW-pohjaisesti.

PXI-oskilloskoopit ovat yhtä helppokäyttöisiä, mitä pöytäskoopeilta odotetaan. Suunnittelijat voivat käyttää interaktiivisia NI-SCOPE-ohjelmiston paneeleita perusmittausten tekemiseen, automatisoitujen sovellusten virheenkorjauksiin ja mitattavan datan seurantaan testiohjelman ollessa käynnissä. Ajuri sisältää ohjetiedostot, dokumentaation ja ajovalmiit esimerkkiohjelmat, jotka avustavat testikoodin kehittämisessä, ja niihin sisältyy ohjelmointiliitäntä, joka toimii useiden kehitysympäristöjen kuten C, Microsoftin .NET ja LabVIEW-järjestelmäsuunnittelun ohjelmistojen kanssa. Suunnittelijat voivat myös käyttää PXI-oskilloskooppeja testauksen hallinnan TestStand -ohjelmiston kanssa, mikä yksinkertaistaa testausjärjestelmien luomista ja kehitystä laboratoriossa ja tuotantotiloissa.

Tämä on seuraava askel piiritekniikassa: eFPGA

On selvää, että puolijohdealalla keskitytään vihdoin kasvavaan valikoimaan teknologioita, jotka prosessigeometrian kutistamisen sijaan katsovat uusia järjestelmäarkkitehtuureita ja käytettävissä olevan piin parempaa käyttöä uusien piiri- laite- ja kotelointisuunnittelun konseptien kautta. Kun astumme uudelle aikakaudelle, seuraava looginen askel näyttää olevan FPGA-piirin ja prosessorin eli CPU:n yhdistäminen: sulautettu FPGA.

Lue lisää...

Uusi LabVIEW tekee mahdottomasta mahdollista

Ohjelmisto ratkaisee järjestelmien tehokkuuden myös mittauksessa ja testauksessa. NI:n uusi LabVIEW NXG on ympäristö, jossa monia toimintoja voidaan tehdä ilman ohjelmointia.

Lue lisää...
 
ETN_fi Smartphone OS shares? See the graph from Kantar. https://t.co/ZUuDBJrO52
ETN_fi Wanna know what Linus Torvalds thinks about all kind of gadgets? Well, now you can by reading his Google+ page: https://t.co/M0O7texu0V
ETN_fi @OfficeInsider When will Outlook 2016 for Mac support Google calendar?
ETN_fi RT @Kwikman: World's first autonomous maritime ecosystem, Sauli Eloranta Rolls-Royce #ddayfi #RebootFinland https://t.co/DopdH7pzQ3
ETN_fi RT @Kwikman: Invitation to build world's first level 5 self driving system #ddayfi #RebootFinland https://t.co/CueAUztf0m
 

ny template