
VTT:n tutkija Sanna Aikio on kehittänyt väitöstyössään optisia antureita, ns. integroituja Youngin interferometrejä, edulliseen kannettavaan diagnostiikkaan. Aikion kehittämä liuska tekee optisesta mittaamisesta paremmin häiriöitä sietävän. Väitöstyössään Aikio osoitti, että kehitetty menetelmä toimii tehokkaasti ja mahdollistaa näytteiden mittaamisen mekaanisista häiriöistä huolimatta.