Pickering Interfaces on tuonut markkinoille uuden 12-paikkaisen LXI/USB-kehikon, joka tarjoaa tällä hetkellä markkinoiden suurimman PXI-paikkatiheyden ja alhaisimman kustannuksen per korttipaikka. Uutuus, malliltaan 60-107-001, yhdistää 12 hybridiyhteensopivaa PXI-/PXIe-paikkaa vain 2U-korkuisessa muodossa ja toimii ilman erillistä PXI-ohjainta. Ohjaus hoituu suoraan USB:n tai Ethernetin kautta tavallisella PC:llä.
Pickeringin kehityspäällikkö Lee Huckle korostaa ratkaisun merkitystä tilaa ja kustannuksia säästävissä testijärjestelmissä. Hänen mukaansa 2U-kokoluokan laite tarjoaa sekä markkinoiden tiheimmän PXI-paikkamäärän että pienimmän kustannuksen per korttipaikka, mikä vastaa suoraan testilaitemarkkinan tarpeeseen rakentaa modulaarisia järjestelmiä kompaktisti ja joustavasti.
Kehikko tukee jopa 12 yksipaikkaista 3U PXI/PXIe-moduulia vaakasuuntaisessa asennossa, ja se hyväksyy myös leveämmät, jopa nelipaikkaiset moduulit, kuten Pickeringin BRIC4-tiheysmatriisit. Sisäinen ohjainkortti poistaa perinteisen järjestelmäpaikan tarpeen ja vapauttaa kaiken tilan mittausmoduuleille.
Transversaalinen jäähdytysratkaisu poistaa tarpeen jättää 1U ilmatilaa kehikon yläpuolelle, joten kaksi kehikkoa voidaan asentaa suoraan päällekkäin. Tällä saavutetaan 24 moduulipaikkaa vain 4U-tilassa – noin 20 prosenttia enemmän kuin Pickeringin aiemmassa, tiheydeltään markkinajohtajana pidetyssä 4U 42-927-kehikossa.
Uutuus on suunnattu erityisesti tuotanto- ja toimintatestausympäristöihin, joissa järjestelmiä halutaan skaalata edullisesti ilman uuden PXI-kehikon ja ohjaimen hankintaa. Pickeringin mukaan ratkaisu sopii hyvin myös olemassa olevien PXI-järjestelmien laajennuksiin, kun korttipaikat ovat vähissä mutta suorituskykyvaatimukset kasvavat.
Kehikko sisältää kentällä vaihdettavat, moduulirakenteiset virtalähde- ja ohjainyksiköt, mikä helpottaa huoltoa ja tulevia päivityksiä. OLED-näyttö kertoo LAN-tiedot ja IP-osoitteen, ja älykäs tuuletinohjaus säätää jäähdytystä lämpökuorman mukaan.
Saataville tulee myös versio 60-107-002, joka sisältää sisäisen scan list -sekvensoinnin ja triggeröinnin nopeuttamaan toistuvia kytkentä- ja mittaustoimintoja tuotantotestissä.
