Suljettujen testausjärjestelmien aika on päättymässä. Tulevaisuuden laitteet ovat paljon aiempaa monimutkaisempia ja niiden testaaminen vaatii avoimia alustoja ja modulaarisia laiteratkaisuja, sanoo National Instrumentsin RF-mittauslaitteiden markkinoinnista vastaava Jason White.
NI julkisti tänään toisen sukupolven PXI-pohjaisen VST-moduulinsa, joka on hyvä esimerkki uudenlaisesta testausjärjestelmästä. - Asiakas tietää aina parhaiten testauksen tarpeet. Ratkaisun pitää olla räätälöitävissä ja sen tukena täytyy olla avoimen ja vilkkaan ekosysteemin, White evästää.
Perinteisesti esimerkiksi uusia älypuhelimia on testattu pöytämallisilla testereillä. Ne ovat olleet tehokkaita ratkaisuja dedikoituihin tehtäviin, mutta samalla ne ovat suljettuja järjestelmiä.
- Boksit tuottavat mittauksia. Avoimet alustat tuottavat oivalluksia, kuvaa White lähestymistapojen eroa.
Markkinoiden koossa on vielä merkittävä ero. Perinteisiä pöytämallisia testereitä myydään miljardeilla, vaikka markkina ei juuri kasvakaan. Toisaalta esimerkiksi PXI-pohjaisten mittalaitteiden markkinoiden koko kasvaa tänä vuonna 800 miljoonaan dollariin. Miljardin dollarin raja menee rikki ensi vuonna, uskoo tutkimuslaitos Frost & Sullivan.
Miksi ohjelmoitava, perustaltaan PC-liitettävä kortti sitten on kasvattanut suosiotaan? Konkreettinen esimerkki löytyy wifi-piireistä, joita Qualcomm on kehittänyt. Jo PXI-pohjaisen testerin myötä wifi-piirin testaus nopeutui 10-kertaiseksi. NI:n uuden VST-moduulin myötä nopeutta tulee 20-kertaisesti lisää.
- Vanhaan räkkimalliseen testausjärjestelmään verrattuna uusi VST testaa langatonta laitetta jopa 200 kertaa nopeammin, White alleviivaa. Vanha testaustekniikka ei yksinkertaisesti ole tarpeeksi älykäs skaalautuakseen uusien laitteiden testaustarpeisiin.
Alustapohjainen avoi järjestelmä tekee testaamiselle lopulta sen, minkä NI:N perustaja James Truchard visioi 30 vuotta sitten. - Teemme insinööreille saman, minkä taulukkolaskenta teki talousanalyysille, Truchard muotoili jo vuonna 1986.
