Anritsu on esitellyt uuden Tensor-vektoripiirianalysaattorin (Vector Network Analyzer, VNA), jonka erikoisuus ei ole pelkästään suorituskyky vaan sisäänrakennettu tekoäly. Yhtiön mukaan Tensor on maailman ensimmäinen RF- ja mikroaaltomittalaite, joka hyödyntää tekoälyä mittausten tekemisen ja virheiden tunnistamisen apuna.
RF- ja mikroaaltomittaukset ovat usein monimutkaisia. Mittaustuloksiin voivat vaikuttaa esimerkiksi väärät asetukset, puutteellinen kalibrointi, virheelliset kytkennät tai epäoptimaaliset mittausmenetelmät. Tensor VNA:n tavoitteena on tunnistaa tällaisia ongelmia automaattisesti ja auttaa käyttäjää löytämään oikeat mittausasetukset.
Anritsu kuvaa tekoälyä mittausinsinöörin kumppaniksi. Sen sijaan että laite toimisi pelkkänä mittausvälineenä, se pystyy antamaan ehdotuksia mittausten toteuttamiseen ja ymmärtää käyttäjän luonnollisella kielellä esittämiä kysymyksiä. Tarkoituksena on tehdä vaativista RF-mittauksista aiempaa helpompia myös vähemmän kokeneille käyttäjille.
Tensor VNA perustuu täysin uuteen laitearkkitehtuuriin. Jokaisella mittausportilla on oma signaalilähteensä, mikä mahdollistaa aiempaa monipuolisemmat vahvistin- ja sekoitinmittaukset ilman erillisiä lisälaitteita. Neliporttisessa analysaattorissa on esimerkiksi neljä toisistaan riippumatonta lähdettä.
Yhtiö korostaa myös mittalaitteen suurta dynamiikka-aluetta, nopeaa pyyhkäisynopeutta sekä modernia ohjelmistoarkkitehtuuria. Laitteella voidaan tehdä mittauksia aina 220 gigahertsiin asti Anritsun omien millimetriaalto-moduulien avulla, ja ulkoisilla ratkaisuilla taajuusalue ulottuu jopa 1,1 terahertsiin.
IMS 2026 -messuilla Anritsu kertoi käyttävänsä Tensorissa omia kielimallejaan. Tarkempia teknisiä yksityiskohtia yhtiö ei paljastanut, mutta kyse ei ole yleiskäyttöisestä pilvipalveluun perustuvasta tekoälystä vaan mittaussovelluksiin koulutetusta pienestä kielimallista.
Tekoälyn tuominen mittalaitteisiin muistuttaa kehitystä, jota on nähty viime vuosina EDA-ohjelmistoissa. Tavoitteena ei ole korvata suunnittelijaa tai mittausinsinööriä, vaan auttaa löytämään virheet nopeammin, lyhentää käyttöönottoaikaa ja tehdä yhä monimutkaisemmista RF-mittauksista helpommin lähestyttäviä.
