Integroiduissa perinteisissä mittauslaitteissa mittausohjelmisto, -algoritmit ja laitteisto ovat erillisiä. Niiden ongelmana on ollut, että ne eivät voi koskaan tarjota optimaalista ratkaisua kaikkiin mittaustarpeisiin. Tätä ongelmaa on lähdetty ratkomaan tuomalla modulaariset mittausratkaisut kuten PXI- ja sittemmin AXIe-kehikkostandardit perinteisten mittalaitteiden rinnalle.

Modulaarisilla ratkaisuilla on pystytty laajentamaan laitetarjontaa yhdistämällä monipuolisia mittausohjelmistoja modulaaristen mittalaitteiden kanssa. Näin pystytään kokoamaan sopiva mittausratkaisu muuttuvien tarpeiden mukaan.

Tärkeimpänä ominaisuutena voi olla mittausten nopeus, suorituskyky ja/tai järjestelmän muokattavuus erilaisiin mittauksiin. Modulaarisuus mahdollistaa siis mittauslaitteiston ja ohjelmiston yhdistämisen optimaaliseksi kokonaisuudeksi esimerkiksi tuotekehitys-, tutkimus- tai tuotannon testausratkaisuissa.

Perinteisissä mittalaitteissa käytetyt analyysi- ja ohjausohjelmistot on siirretty itsenäisiksi Agilentin ohjelmistotuotteiksi käytettäväksi modulaaristen instrumenttien kanssa. Modulaariset laitteet sisältävät IVI-C-, IVI-COM- ja LabVIEW-ohjainrajapinnat, jotka mahdollistavat laitteiden käytön yleisimpien ohjelmointiympäristöjen kanssa. Näiden avulla käyttäjä voi tehdä tarvittavat ohjaus- ja analyysisovellukset laajentaen valmiiksi tarjottuja sovelluksia.

Analyysimenetelmät ja algoritmit ovat identtisiä perinteisten laitteiden kanssa, joten sovelluksesta riippuen voidaan valita pöytälaite (benchtop), kannettava tai modulaarinen ratkaisu. Mittaustulokset ovat yhteneviä ja vertailukelpoisia eri laitetyyppien välillä.

Modulaaristen mittalaitteiden valikoima kattaa jo kaikki perinteiset mittalaiteryhmät: nopeat digitointijärjestelmät, yleismittarit, oskilloskoopit, logiikka-analysaattorit, aaltomuotogeneraattorit, signaalin kytkentä- ja muokkausratkaisut sekä RF- ja mikroaaltoanalysaattorit ja -generaattorit.

Modulaariset tuotteet pohjautuivat aiemmin PXI-standardille, joka kuitenkin asetti rajoituksia mittalaitteiden suorituskyvylle. Nyt PXI:n rinnalle on luotu uusi AXIe-standardi, joka mahdollistaa suorituskykyisempien mittalaitteiden kehittämisen. Tällaisia ovat esimerkiksi nopeiden sarja- ja rinnakkaisväylien kuten PCIe Gen 3-, HDMI- ja MIPI D-PHY -protokolla-analysaattorit.

Modulaarisista mittalaitteista on paljon etu esimerkiksi uusien tietoliikennestandardien kuten LTE:n päätelaitteiden ja tukiasemien tuotekehityksessä. Tiedonsiirtokapasiteetin nostamiseksi LTE tukee ns. MIMO-monikanavajärjestelmiä, joissa tieto lähetetään yhtäaikaisesti kahdella, neljällä tai peräti kahdeksalla antennilla. LTE tukiaseman testaaminen tuotekehityksessä vaatii vastaavan määrän analysaattoreita.

Useiden perinteisten analysaattoreiden käyttö tällaisessa sovelluksessa ei ole optimaalista. Modulaarisilla mittalaitteilla on mahdollista muodostaa esimerkiksi 8-kanavainen vektorisignaalianalysaattori, joka sopii merkittävästi pienempään tilaan ja kuluttaa tehoa murto-osan erillislaitteiden tehonkulutuksesta. Lisäksi modulaarisen järjestelmän hankintakustannukset ovat edullisemmat kuin useaa perinteistä analysaattoria käytettäessä.

Matti Meuronen on työskennellyt Agilent Technologies Oy:ssä 13 vuotta eri tehtävissä: teknisenä asiantuntijana, mittalaitemyynnissä ja nykyisin sovellusinsinöörinä.