AEL:n tiloissa Helsingin Malminkartanossa järjestetty Mittaus & testaus -näyttely jäi tänä vuonna kävijätavoitteestaan. Tapahtumaan odotettiin tuhatta vierasta, mutta lopulliseksi kävijämääräksi tui 702.
Kahdesta näyttelypäivästä jälkimmäinen oli hieman vilkkaampi noin 400 vieraallaan. Silti torstainakin AEL:n tiloissa oli väljää. Takavuosien ruuhkasta ei tällä kertaa ollut tietoakaan.
Tapahtumassa tehdyn kävijätutkimuksen mukaan tyypillinen Mittaus & testaus -vieras on ammattikorkeakoulun käynyt asiantuntija. Puolet kävijätutkimukseen haastatelluista käytti näyttelyn läpikäymiseen aikaa 1.2 tuntia. Hyväksi näyttelyn annin kuitenkin arvioi peräti 72 prosenttia haastatelluista.
Näyttelystä vastaavan AEL:n koulutusasiantuntija Hannu Vartiaisen mukaan alaite näyttelyvierailta oli hyvin positiivista. - Järjestelyt toimivat tuttuun tapaan jouheasti. Yksi näytteilleasettaja halusi jo nyt varata paikan seuraavalle vuodelle, Vartiainen kertoi. Seuraavaa näyttelyä onkin kaavailtu ajalle 27.-28. elokuuta ensi vuonna.
Kovin suuria maailmanuutuuksia näyttelyssä ei tänä vuonna nähty. Esiin nousivat kuitenkin tulevia LTE-Advanced -verkkoja varten kehitetyt mittausratkaisut, joita alkaa nyt tulla tarjolle kovalla vauhdilla.
Toinen kasvava trendi on modulaaristen ratkaisujen lisääntyminen. Esimerkiksi PXI-väyläiset mittauskortit ovat vauhdilla tulossa tuotantolinjoille testereiksi. PXI on myös alue, joka tämän hetken mittausmaailmassa kasvaa nopeinta vauhtia. Sen markkinat kasvavat vuodessa 20-25 prosentin vauhtia.