NIWeek 2014, Austin - National Instrumentsin järjestyksessään 20. NI Week -tapahtuma alkoi eilen julkistuksella, joka yllätti monet. Yhtiö lanseerasi aivan uutena tuotteena PXI-pohjaisen automaattisen testilaitteen, jota voidaan käyttää esimerkiksi IC-piirien tuotantotestauksessa.
RF- ja sekasignaalipiirien perinteinen ATE-testaus on ollut kallista. Uusi NI STS -alusta (Semiconductor Test System) nopeuttaa piirien testaamista ja mikä tärkeintä, modulaarinen ratkaisu tulee yrityksille merkittävästi halvemmaksi.
NI ei kertonut STS-kokoonpanojen hintoja, mutta yrityksen tutkimusjohtaja Scott Rustin mukaan kyse on muutaman sadan tuhannen dollarin laitteistoista. Rust ei sen sijaan hyväksynyt määritelmää, että STS olisi NI:n ensimmäinen avaimet käteen -tyyppinen testauslaite.
- Kyse on alustasta, johon asiakas kehittää esimerkiksi omat mittapäät. Lisäksi PXI-pohjaisuus antaa mahdollisuuden kehittää omia mittaussovelluksia, Rust tarkensi.
STS-laitteista tule tarjolla kolme versio. T1 koostuu yhdestä PXI-kehikosta, T2 kahdesta ja T4 neljästä kehikosta. Laite pohjaa Teststandiin ja ohjelmointi tapahtuu tuttuun NI-tapaan Labview´llä.
Yhä tiiviimmin verkottuneessa maailmassa, jossa kyberuhat ovat jatkuvasti läsnä, yritykset kohtaavat yhä enemmän haasteita suojellessaan järjestelmiään ja tietojaan kyberhyökkäyksiltä. KontronOS on IoT-turvallisuuteen kehitetty käyttöjärjestelmä.
Piilaaksolainen Omnivision on julkistanut uuden kuva-anturin, joka tuo ennennäkemättömän laajan dynaamisen alueen ja elokuvatason videokuvauksen älypuhelimiin. OV50X-uutuusanturi on suunnattu huippuluokan puhelimiin, jotka tavoittelevat parasta mahdollista kuvanlaatua kaikissa valaistusolosuhteissa.
