NIWeek 2014, Austin - National Instrumentsin järjestyksessään 20. NI Week -tapahtuma alkoi eilen julkistuksella, joka yllätti monet. Yhtiö lanseerasi aivan uutena tuotteena PXI-pohjaisen automaattisen testilaitteen, jota voidaan käyttää esimerkiksi IC-piirien tuotantotestauksessa.
RF- ja sekasignaalipiirien perinteinen ATE-testaus on ollut kallista. Uusi NI STS -alusta (Semiconductor Test System) nopeuttaa piirien testaamista ja mikä tärkeintä, modulaarinen ratkaisu tulee yrityksille merkittävästi halvemmaksi.
NI ei kertonut STS-kokoonpanojen hintoja, mutta yrityksen tutkimusjohtaja Scott Rustin mukaan kyse on muutaman sadan tuhannen dollarin laitteistoista. Rust ei sen sijaan hyväksynyt määritelmää, että STS olisi NI:n ensimmäinen avaimet käteen -tyyppinen testauslaite.
- Kyse on alustasta, johon asiakas kehittää esimerkiksi omat mittapäät. Lisäksi PXI-pohjaisuus antaa mahdollisuuden kehittää omia mittaussovelluksia, Rust tarkensi.
STS-laitteista tule tarjolla kolme versio. T1 koostuu yhdestä PXI-kehikosta, T2 kahdesta ja T4 neljästä kehikosta. Laite pohjaa Teststandiin ja ohjelmointi tapahtuu tuttuun NI-tapaan Labview´llä.
Virtaamamittaus on monissa laitteissa kriittinen mutta usein ongelmallinen toiminto. Perinteiset mekaaniset anturit kuluvat ja jäävät sokeiksi pienille virtausnopeuksille. Ultraäänitekniikkaan perustuvat valmiit moduulit tarjoavat nyt tarkan, huoltovapaan ja helposti integroitavan vaihtoehdon niin kuluttaja- kuin teollisuussovelluksiin.