Yhä nopeammin käyvät transistorit tuottavat piireihin kohti, jotka usein käyvät ylikuumina. Näitä alueita voidaan välttää suunnittelulla eli käytännössä lämpökäyttäytymisen simuloinnilla. Agilent laajentaa tätä omissa Eesof-työkaluissaan.
Agilent teki jo viime vuonna yhteistyötä Gradient Design Automationin kanssa tuodakseen tarjolle integroidun ympäristön, jossa rf- ja millimetrialueen sirujen suunnitteluun tuotiin mukaan Gradientin simulointityökalut (electro-thermal simulation).
Tämä integrointi sai Agilentin asiakkailta niin hyvän vastaanoton, että sitä aiotaan nyt syventää. Agilentin Eesof-työkaluista vastaava Todd Cutler sanoo, että lämpösimuloinnista on tullut keskeinen osa korkean taajuuden rf-piirien suunnittelua.
Simuloinnin avulla voidaan esimerkiksi arvioida, miten ilma kulkee rf-piirilevyillä ja miten lämpö jakautuu nopeiden komponenttien lähellä. Kun suunnittelua voidaan tämän tiedon perusteella optimoida, saadaan tulokseksi viileämpiä ratkaisuja. Se lisää komponenttien ja laitteiden elinikää ja parantaa monen komponentin toimintatarkkuutta.