Taipunut negatiivinen elektrodi ensimmäisessä erässä ja hitsauksen aikana oikosulun takia sulanut kupari toisessa erässä olivat Samsungin mukaan syitä Note 7 -älypuhelimen akkujen kuumentumiseen. Varmistaakseen ettei mitään vastaavaa pääse enää tapahtumaan yhtiö on lisännyt ja parantanut testauskäytäntöjään.
Jatkossa Samsung testaa laitteisiin 8-kohtaisen prosessin avulla. Tällä halutaan taata se, ettei mitään mahdollisia ongelmia jää testaamisen ulottumattomiin.
Ensimmäiseksi testataan akun kestävyyttä. Akku asetetaan erilaisten rasitusten kohteeksi: ylilataaminen, äärimmäiset lämpötilat, neulla läpi pistäminen, jne. Kaltoinkohdellut akut tarkastetaan sen jälkeen sekä visuaalisesti että röntgen-kuvaamalla.
Neljännessa vaiheessa akut ladataan ja puretaan lukuisia kertoja, jotta nähdään tämän vaikutukset akun toimintaan ja rakenteisiin. Tämän jälkeen tarkistetaan erittäin tarkkaan, ettei orgaanisessa rakenteessa ole tapahtunut muutoksia, jotka voisivat aiheuttaa vuotoja.
Tämän jälkeen akut puretaan, jolloin päästään näkemään niiden rakenteen vakaus. Käyttötestissä simuloidaan nopeasti pitkäkestoista rasitusta, joita kuluttajien käyttö akuille aiheuttaa. Koko tuotannon ja kokoonpanon aikana valvotaan lisäksi mahdollisia muutoksia akun jännitteessä.
Samsung sanoo Note 7:n jälkeen palkanneensa yli 700 uutta testaajaa laadunvalvontaan.
Tria Technologies on julkaissut uuden OSM-LF-IMX95-moduulin, joka tuo tekoälylaskennan suoraan piirilevylle juotettavaan muotoon. Moduuli perustuu NXP i.MX 95 -sovellusprosessoriin ja noudattaa Open Standard Module eli OSM 1.2 -määrittelyä.
Virtaamamittaus on monissa laitteissa kriittinen mutta usein ongelmallinen toiminto. Perinteiset mekaaniset anturit kuluvat ja jäävät sokeiksi pienille virtausnopeuksille. Ultraäänitekniikkaan perustuvat valmiit moduulit tarjoavat nyt tarkan, huoltovapaan ja helposti integroitavan vaihtoehdon niin kuluttaja- kuin teollisuussovelluksiin.
