etn.se
NIWeek 2014, Austin - Alustapohjaisuus on iso osa National Instrumentsin Labview-pohjaisten työkalujen ja laitteiden suosiota, mutta niiden suorituskyky nojaa PC-tekniikan lisäksi yhä useammin ohjelmoitavuuteen. FPGA-piiri tuo testauslaitteisiin lisää suorituskykyä ja optimointia.
NI:llä automatisoiduista testausjärjestelmistä vastaava Luke Schreier kertoi, että FPGA-piirin saaminen Labview-ohjelmoitavaksi kesti 15 vuotta. Mutta edut ovat ilmeiset.
- Suunnittelijan ei tarvitse osata laitekuvauskieliä. Itse asiassa suunnittelijan ei tarvitse edes tietää, että hän ohjelmoi FPGA-piiriä, Schreier kertoo.
Prosessi on sinänsä varsin yksinkertainen. Mikäli suunnittelija kehittää jonkin uuden algoritmin, jota pitää ajaa FPGA-piirillä, se suunnitellaan Labview´llä tutussa graafisessa ympäristössä.
Suunnittelu on periaatteessa samanlaista kuin Labview-suunnittelu yleensäkin, mutta joihinkin asioihin pitää kiinnittää enemmän huomiota. Tällaisia ovat esimerkiksi piirin ajoitus ja FIFO-muistien ohjelmointi.
Kun FPGA:n uusi firmware-ohjelmisto on valmis, se pitää uudelleenkääntää ja valmis koodi pitää ladata FPGA:lle. Mikäli FPGA-suunnittelu on iso, yrityksille on yleensä käytössään käänninfarmeja, jotka nopeuttavat prosessia.
FPGA:n tulo mittaussovelluksiin on muuttanut Luke Schreierin mukaan myös NI:n tuotejulkistuksia. - Aiemmin lanseerasimme 20-40 uutta PXI-laitetta joka vuosi. Nyt FPGA:n myötä laitteet ovat enemmän alustoja, jotka asiakkaat räätälöivät. Siksi niitä tarvitaan vähemmän.
NI käyttää uusissa PXI-korteissaan Xilinxin Kintex-7 -piiriä. Aiemmin esimerkiksi VSA-analysaattoriin istutettiin Virtex-6 -piiri. - Juuri nyt Kintex-7 on sopiva ratkaisu meille, Schreier snaoo.
Huawei julkisti eilen useita uusia 5G-tuotteita Barcelonan MWC-messujen varjotapahtumassaan. Kun yhtälöön lisätään Huawein verkkopuolen julkistukset viime viikon lopulla Lontoossa, käy hyvin ilmi, mitä kilpailijat ja erityisesti Yhdysvallat pelkää. Huawein tutkimuksen kanssa on useimpien vaikea kisata.
Huawei esitteli eilen Barcelonan MWC-messujen sijaan virtuaalisesti uusia tuotteitaan. Ehkä odotetuin uutuus oli yhtiön toisen polven taipuva älypuhelin. Huawein kulutuselektroniikkapuolen toimitusjohtaja Richard Yu esitteli Mate Xs -mallia ylpeänä.
Sony on esitellyt uutuuspuhelimia, jotka alun perin oli tarkoitus lanseerata Barcelonan mobiilimessuilla tällä viikolla. Uutuuksien mukana on älypuhelin, johon on tuotu ensimmäistä kertaa maailmassa 20 ruutua sekunnissa kuvaava sarjakuvausominaisuus. Lippulaivapuhelin Xperia 1 II on varustettu valmistajan järjestelmäkameroista tutulla myös AF/AE-tarkennuksella, minkä ansiosta kamera tarkentaa kohteensa 60 kertaa sekunnissa myös sarjakuvauksen aikana.
Jokainen yritys haluaa, että verkon yli lähetettävä IoT-data on suojassa. Sveitsiläinen u-blox vastaa toiveeseen uusilla SARA-R4-moduuleilla. Niillä LTE-M-, NB-IoT- ja EGPRS-linkkiä pitkin lähetetty data on salattu laitteesta pilveen.
Embedded World on maailman tärkein sulautettujen järjestelmien messutapahtuma ja alkamassa huomenna tiistaina. Koronavirus on aiheuttanut messuilla melkoisen kadon ja kaikkiaan yli 60 yritystä on jo ilmoittanut jättävänsä tapahtuman väliin. Järjestäjä Nürnberg Messe ei kuitenkaan luovuta.
Alkavan viikon piti olla todellista uusien tuotteiden tykitystä Barcelonan Mobile World Congressissa, mutta nyt yritykset tekevät julkistuksensa ilman messuja. Huawei aloitti jo eilen julkistamalla uudet Matebook D -kannettavansa. Yritys haluaa erottautua muista myös läppäreissä.
Check Pointin tutkijat ovat hiljattain löytäneet uuden ”Clicker”-haittaohjelmaperheen Google Play -sovelluskaupasta. Sitä löytyi esimerkiksi kameran apuohjelmista ja lasten värityspeleistä. Haitakkeet jotka jäljittelevät käyttäjää ja napsauttelevat mainoksia, ovat kasvava uhka mobiililaitteissa.
Auto muuttuu, samoin tapamme ajatella autoa. Se sähköistyy ja tulee turvallisemmaksi. Tämä kiihdyttää puolijohteiden ja anturien määrän kasvua autoissa.
Koneyhteyksissä ja älypuhelimissa yleistyvä SIM-kortin korvaava eSIM tuo uusia haasteita laitteiden testaukseen. Anritsun verkkoanalysaattoriin ja Comprionin hallintaohjelmistoon perustuva testausmenetelmä tarjoaa tehokkaan ratkaisun eSIM-piiriä hyödyntävien laitteiden testaukseen.