NIWeek 2014, Austin - Alustapohjaisuus on iso osa National Instrumentsin Labview-pohjaisten työkalujen ja laitteiden suosiota, mutta niiden suorituskyky nojaa PC-tekniikan lisäksi yhä useammin ohjelmoitavuuteen. FPGA-piiri tuo testauslaitteisiin lisää suorituskykyä ja optimointia.
NI:llä automatisoiduista testausjärjestelmistä vastaava Luke Schreier kertoi, että FPGA-piirin saaminen Labview-ohjelmoitavaksi kesti 15 vuotta. Mutta edut ovat ilmeiset.
- Suunnittelijan ei tarvitse osata laitekuvauskieliä. Itse asiassa suunnittelijan ei tarvitse edes tietää, että hän ohjelmoi FPGA-piiriä, Schreier kertoo.
Prosessi on sinänsä varsin yksinkertainen. Mikäli suunnittelija kehittää jonkin uuden algoritmin, jota pitää ajaa FPGA-piirillä, se suunnitellaan Labview´llä tutussa graafisessa ympäristössä.
Suunnittelu on periaatteessa samanlaista kuin Labview-suunnittelu yleensäkin, mutta joihinkin asioihin pitää kiinnittää enemmän huomiota. Tällaisia ovat esimerkiksi piirin ajoitus ja FIFO-muistien ohjelmointi.
Kun FPGA:n uusi firmware-ohjelmisto on valmis, se pitää uudelleenkääntää ja valmis koodi pitää ladata FPGA:lle. Mikäli FPGA-suunnittelu on iso, yrityksille on yleensä käytössään käänninfarmeja, jotka nopeuttavat prosessia.
FPGA:n tulo mittaussovelluksiin on muuttanut Luke Schreierin mukaan myös NI:n tuotejulkistuksia. - Aiemmin lanseerasimme 20-40 uutta PXI-laitetta joka vuosi. Nyt FPGA:n myötä laitteet ovat enemmän alustoja, jotka asiakkaat räätälöivät. Siksi niitä tarvitaan vähemmän.
NI käyttää uusissa PXI-korteissaan Xilinxin Kintex-7 -piiriä. Aiemmin esimerkiksi VSA-analysaattoriin istutettiin Virtex-6 -piiri. - Juuri nyt Kintex-7 on sopiva ratkaisu meille, Schreier snaoo.
Sulautettuja ratkaisuja tarjoava MikroElektronika eli MIKROE on lanseerannut uuden SiBRAIN-lisäkortin. Sen avulla sulautettujen sovellusten suunnittelijat voivat aloittaa GigaDevicen RISC-V-pohjaiseen mikro-ohjaimeen perustuvien prototyyppien valmistuksen.
Kun harkitsemme akkukäyttöisen laitteen ostamista, yksi tärkeimmistä mittareista on sen toiminta-aika yhdellä latauksella. Akun kestosta on tullut keskeinen myyntivaltti monille puetettaville laitteille, mutta se on myös merkittävä näkökohta teollisten IoT-anturien ja muiden vastaavien sovellusten kasvavalle määrälle.
