Puhelinvalmistuksessa on tärkeää tarkastaa näyttö, mikä nykyään tapahtuu kameran ja konenäön avulla. ON Semiconductor on esitellyt uuden 50 megapikselin CCD-kennon, joka pystyy kuvaamaan kännykkänäytön yhdellä otoksella.
KAI-50140-kenno on resoluutioltaan suurin ITCCD-kenno (Interline Transfer CCD). IT-CCD on useiden megapikselien tarkkuuteen skaalautuva elektroninen globaali suljintekniikka - eli kennon pikselit valottuvat kerralla – joka ei tuota kuvaan liikkeestä aiheutuvia vääristymiä.
50 megapikselin resoluutiolla ja 2,18:1-kuvasuhteella kennolla voidaan ottaa kerralla kuva nykyisistä älypuhelinnäytöistä. Näyttöjen lisäksi kenno sopii piirikorttien konenäkötarkistukseen.
Kenno tukee neljän ruudun sekuntinopeutta. Sen nastoitus on yhteensopiva ON Semin aiempien 29 megapikselin konenäkökennojen kanssa, joten uusi anturi voidaan liittää nykyisiin järjestelmiin tuotantolinjalla.
KAI-50140-kennon näytetoimitukset ovat jo alkaneet. Volyymituotanto alkaa vielä vuoden loppuun mennessä.