
Analogipiirien testaamiseen kuluva aika lyhenee jatkossa kuukausista päiviin, kun Siemens Digital Industries Software toi markkinoille uuden Tessent AnalogTest -ohjelmiston. Ratkaisu automatisoi testikuviot analogisille piireille ja mahdollistaa jopa sadankertaisen nopeuden perinteisiin menetelmiin verrattuna.
Analogisten integroitujen piirien (IC) testaus on ollut perinteisesti työlästä ja kallista, sillä se on vaatinut manuaalista koodausta sekä kalliita sekasignaalitestauslaitteita. Siemensin uusi ohjelmisto muuttaa tätä asetelmaa yhdistämällä hyväksi todetun Tessent DefectSim -teknologian automaattiseen testikuviogenerointiin. Tämä vähentää merkittävästi suunnittelijoiden työkuormaa ja laskee testauksen kokonaiskustannuksia.
Tessent AnalogTest on alan ensimmäinen automatisoitu DFT-ratkaisu analogi-IC:ille. Se tuottaa digitaalisia testivektoreita, joiden avulla voidaan saavuttaa ja varmistaa yli 90 prosentin virhepeitto jo ennen sirujen valmistusta. Testit suoritetaan millisekunneissa lähes millä tahansa testerillä, mikä lyhentää tuotekehityksen kriittistä testausvaihetta huomattavasti.
Ensimmäiset käyttäjät ovat raportoineet lupaavia tuloksia. Esimerkiksi onsemi saavutti ohjelmiston avulla yli 95 prosentin virhepeiton ja yli 100-kertaisen testausnopeuden verrattuna perinteisiin menetelmiin. Tämä tuo analogisten piirien laadunvarmistukseen samantasoisen tehokkuuden, jonka digitaalipiirit saavuttivat jo aiemmin automatisoidun testauksen avulla.
Siemensin mukaan uusi työkalu ei ainoastaan nopeuta testejä, vaan myös parantaa laatua. Automatisoitu lähestymistapa vähentää virhemahdollisuuksia, helpottaa ISO 26262 -turvallisuusvaatimusten täyttämistä ja lyhentää aikaa markkinoille pääsyyn.
Lisäksi ohjelmisto hyödyntää IEEE-standardien mukaista kuvauskieltä, mikä mahdollistaa testien simuloimisen ja virhepeiton varmistamisen jo varhaisessa vaiheessa. Tämä tekee siitä joustavan työkalun niin algoritmiseen trimmaamiseen kuin parametritestien optimointiin.
Tessent AnalogTest on tällä hetkellä varhaisten yhteistyökumppaneiden käytössä, ja sen yleinen saatavuus alkaa joulukuussa 2025. Ratkaisun odotetaan laajasti muuttavan analogipiirien testausprosessia, joka on ollut pitkään elektroniikkateollisuuden pullonkaula.
Lisätietoja täällä.






















